平板探測器可應用于NDT行業的所有領域，重量約3.5kg，可選擇防護殼保護超輕的平板，免受硬射線損傷，同時有助于方便地固定在管子等被檢測物上進行在線檢測。

 

　　不同材料的夾層屏蔽來自硬射線的電子，數字平板一次可以安全的用于現場檢測和固定檢測，甚至硬射線，比如同位素應用。

 

　　平板探測器從能量轉換的方式可以分為兩種：間接轉換平板探測器和直接轉換平板探測器。

　　間接轉換平板探測器：由碘化銫等閃爍晶體涂層與薄膜晶體管或電荷耦合器件或互補型金屬氧化物半導體構成。間接轉換平板探測器的工作過程一般分為兩步，首先閃爍晶體涂層將X線的能量轉換成可見光；其次TF T或者C CD，或C MO S將可見光轉換成電信號。由于在這過程中可見光會發生散射，對空間分辨率產生一定的影響。雖然新工藝中將閃爍體加工成柱狀以提高對X線的利用及降低散射，但散射光對空間分辨率的影響不能*消除。

　　直接轉換平板探測器：主要由非晶硒層T FT構成。入射的X射線使硒層產生電子空穴對，在外加偏壓電場作用下，電子和空穴對向相反的方向移動形成電流，電流在薄膜晶體管中形成儲存電荷。每一個晶體管的儲存電荷量對應于入射X射線的劑量，通過讀出電路可以知道每一點的電荷量，進而知道每點的X線劑量。由于非晶硒不產生可見光，沒有散射線的影響，因此可以獲得比較高的空間分辨率。